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環(huán)境應力篩選(ESS)中的“潛在缺陷”是啥？
環(huán)境應力篩選(ESS)是通過向電子產品施加合理的環(huán)境應力和電應力，將其內部的“潛在缺陷”激發(fā)成為故障，并通過檢測發(fā)現和排除的過程，是一種工藝手段。在制定ESS方案前，首先應研究產品缺陷，即研究產品缺陷是開展ESS的前提。根據缺陷特點，可將產品缺陷按以下方式分類：
1．按引入缺陷的源頭分類，可分為設計缺陷、生產缺陷、元器件及原材料缺陷。
2．按可檢測程度分類，可分為明顯缺陷與潛在缺陷。
3．按ESS效果分類，可分為ESS能激發(fā)和導致故障的缺陷、ESS不能激發(fā)和導致故障的缺陷。
下表給出了ESS與“潛在缺陷”的關系。
缺陷分類 | 元器件缺陷 | 設計缺陷 | 生產缺陷 | ESS作用 | 發(fā)現缺陷手段 | |
明顯缺陷 | 可能導致故障的缺陷 | 可檢測出 | 可檢測出 | 可檢測出 | 能激發(fā) | 檢驗 |
不能導致故障的缺陷 | 可檢測出 | 可檢測出 | 可檢測出 | 不能激發(fā) | 檢驗 | |
潛在缺陷 | 可能導致故障的缺陷 | 不能測出 | 不能測出 | 不能測出 | 能激發(fā) | ESS |
不能導致故障的缺陷 | 不能測出 | 不能測出 | 不能測出 | 不能激發(fā) | —— | |
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